測(cè)試軟件與系統(tǒng)
GtestWorks自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)
SemiWorks半導(dǎo)體靜態(tài)參數(shù)測(cè)試軟件支持測(cè)量相關(guān)器件在廣泛工作條件下的全部參數(shù)，包括擊穿電壓、導(dǎo)通電阻以及三端子FET電容、柵極電荷和功耗等IV參數(shù)。
SemiWorks可以幫助功率電路設(shè)計(jì)人員選擇最適合的半導(dǎo)體器件，提升產(chǎn)品的性能。
提供完整的電路設(shè)計(jì)解決方案
從靜態(tài)特征、柵極電荷特征到功率損耗的寬泛器件參數(shù)測(cè)試
搭配STS系列半導(dǎo)體靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)和IVCVQG測(cè)試治具，實(shí)現(xiàn)一鍵自動(dòng)化測(cè)試
支持測(cè)試所有IV、柵極電荷、電容、切換特征、功率損耗參數(shù)
兼容MOSFET、IGBT、BJT、Diode等類(lèi)型器件的測(cè)試
單一軟件程控包括測(cè)試治具在內(nèi)的所有測(cè)試設(shè)備
提供可視化的操作步驟和測(cè)試流程指引，簡(jiǎn)單直觀
支持自定義被測(cè)器件的限值，用于后續(xù)的PASS/FAIL判定
測(cè)試數(shù)據(jù)與日志實(shí)時(shí)刷新，支持?jǐn)?shù)據(jù)表、曲線(xiàn)圖等顯示，提供錯(cuò)誤告警功能
測(cè)試數(shù)據(jù)/報(bào)告可導(dǎo)出為Word、pdf、Excel、CSV等多種格式
適用于三管腳/兩管腳的半導(dǎo)體封裝器件或晶圓器件的測(cè)試與表征
車(chē)載充電機(jī)、充電樁、儲(chǔ)能變流器等
高壓、大電流性能測(cè)試......，符合續(xù)航提升和快充需求
變頻器、伺服驅(qū)動(dòng)器、電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)等
高頻開(kāi)關(guān)特性、過(guò)載保護(hù)測(cè)試......，支撐工業(yè)設(shè)備的精度和高效運(yùn)行
封裝器件、晶圓級(jí)器件等
擊穿電壓測(cè)試、漏電流測(cè)試、導(dǎo)通電阻測(cè)試......，確保工藝穩(wěn)定性
| 特征 | 類(lèi)別 | 參數(shù) |
|---|---|---|
| 靜態(tài)特征 | 閾值電壓 | Vgs(th)、Vge(th) |
| 傳輸特征 | Id-Vgs、Ic-Vge、gfs | |
| 導(dǎo)通電阻 | Rds-on、Vce(sat) | |
| 柵極泄漏電流 | Igss、lges | |
| 輸出泄漏電流 | Idss、Ices | |
| 輸出特征 | Id-Vds、Ic-Vce | |
| 擊穿電壓 | BVds、BVces | |
| 柵極電荷特征 | 柵極電荷 | Qg、Qg(th)、Qgs、Qgd、Qsw、Qsync、Qoss |
| 電容特征 | 柵極電阻 | Rg |
| 器件電容 | Ciss、Coss、Coss_eff、Crss、Cgs、Cgd、Cies、Coes、Cres | |
| 切換特征 | 切換參數(shù) | Td(通)、Td(斷)、Tr、Tf*1 |
| 功率損耗 | 功率損耗參數(shù) | 驅(qū)動(dòng)損耗/切換損耗*2 特定占空比傳導(dǎo)損耗*3 |
*1. 通過(guò)測(cè)得Qg特征、Vth和Rg計(jì)算得出切換參數(shù)
*2. 通過(guò)測(cè)得特定頻率Qg特征、Vth和Rg計(jì)算得出驅(qū)動(dòng)損耗和切換損耗
*3. 通過(guò)測(cè)得導(dǎo)通電阻和峰值電流計(jì)算得出傳導(dǎo)損耗
? 導(dǎo)入導(dǎo)出
支持導(dǎo)入導(dǎo)出Json格式的測(cè)試配置
? 多類(lèi)型切換測(cè)試
內(nèi)置多種類(lèi)型的DUT，提供特征參數(shù)和特征圖測(cè)試
? 限值設(shè)置
支持設(shè)置被測(cè)器件的上下限值，可自定義電壓、電流、溫度測(cè)試條件
? 測(cè)試狀態(tài)顯示
通過(guò)顏色標(biāo)識(shí)“進(jìn)行”、“通過(guò)”、“失敗”的測(cè)試狀態(tài)
? PASS/FIAL判定
支持對(duì)測(cè)量值進(jìn)行PASS/FAIL判定，并通過(guò)顏色標(biāo)識(shí)判定結(jié)果
? 單步測(cè)試運(yùn)行
支持自定義測(cè)試序列，可單步/連續(xù)執(zhí)行測(cè)試序列
? 測(cè)試圖表
支持測(cè)量并記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，并映射出測(cè)試波形圖
? 測(cè)試數(shù)據(jù)
支持實(shí)時(shí)顯示測(cè)試數(shù)據(jù)總表，數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)到數(shù)據(jù)庫(kù)
? 測(cè)試日志
測(cè)試日志實(shí)時(shí)刷新，支持在測(cè)試異常、錯(cuò)誤時(shí)進(jìn)行告警
